Spectromètre de fluorescence X
Bureau de Contrôle Qualité et Technique (Directive Environnementale)
RoHS/Rohs (Chine)/ELF/EN71
Jouet
Papier, céramique, peinture, métal, etc.
Matériel électrique et électronique
Semi-conducteurs, matériaux magnétiques, soudure, pièces électroniques, etc.
Acier, métaux non ferreux
Alliages, métaux précieux, scories, minerais, etc.
industrie chimique
Produits minéraux, fibres chimiques, catalyseurs, revêtements, peintures, cosmétiques, etc.
environnement
Sol, nourriture, déchets industriels, poudre de charbon
Huile
Huile, huile lubrifiante, huile lourde, polymère, etc.
autre
Mesure d'épaisseur de revêtement, charbon, archéologie, recherche de matériaux et médecine légale, etc.
● Trois types différents de systèmes de sécurité contre les rayonnements X, de verrouillages logiciels, de verrouillages matériels et de verrouillages mécaniques, élimineront complètement les fuites de rayonnement dans toutes les conditions de travail.
● Le XD-8010 dispose d'un chemin optique de conception unique qui minimise les distances entre la source de rayons X, l'échantillon et le détecteur tout en conservant la flexibilité de basculer entre une variété de filtres et de collimateurs.Cela améliore considérablement la sensibilité et abaisse la limite de détection.
● La chambre d'échantillon de grand volume permet d'analyser directement de grands échantillons sans avoir besoin de dommages ou de prétraitement.
● Analyse simple à un seul bouton à l'aide d'une interface logicielle pratique et intuitive.Aucune formation professionnelle n'est requise pour effectuer le fonctionnement de base de l'instrument.
● Le XD-8010 fournit une analyse élémentaire rapide des éléments de S à U, avec des temps d'analyse réglables.
● Jusqu'à 15 combinaisons de filtres et collimateurs.Des filtres de différentes épaisseurs et matériaux sont disponibles, ainsi que des collimateurs allant de Φ1 mm à Φ7 mm.
● La puissante fonction de formatage des rapports permet une personnalisation flexible des rapports d'analyse générés automatiquement.Les rapports générés peuvent être enregistrés aux formats PDF et Excel.Les données d'analyse sont automatiquement stockées après chaque analyse. Les données historiques et statistiques sont accessibles à tout moment à partir d'une simple interface de requête.
● À l'aide de la caméra échantillon de l'instrument, vous pouvez observer la position de l'échantillon par rapport au foyer de la source de rayons X.Des photos de l'échantillon sont prises au début de l'analyse et peuvent être affichées dans le rapport d'analyse.
● L'outil de comparaison de spectres du logiciel est utile pour l'analyse qualitative et l'identification et la comparaison de matériaux.
● En utilisant des méthodes éprouvées et efficaces d'analyse qualitative et quantitative, l'exactitude des résultats peut être assurée.
● La fonction d'ajustement de courbe d'étalonnage ouverte et flexible est utile pour une variété d'applications telles que la détection de substances nocives.
Méthode d'analyse des éléments nocifs
| Substances dangereuses | Exemple | |
| Analyse de dépistage | Analyse détaillée | |
| Hg | Spectroscopie aux rayons X | SAA |
| Pb | ||
| Cd | ||
| Cr6 + | Spectroscopie aux rayons X (Analyse du Cr total) | Chromatographie ionique |
| PBB / PBDE | Spectroscopie aux rayons X (Analyse du Br total) | GC-MS |
Processus de gestion de la qualité
Mesure des oligo-éléments nocifs dans les échantillons de polyéthylène, tels que Cr, Br, Cd, Hg et Pb.
• La différence entre les valeurs données et les valeurs réelles de Cr, Br, Cd, Hg et Pb.
La différence entre les valeurs données et les valeurs réelles de Cr, (Unité : ppm)
| Goûter | Valeur donnée | Valeur réelle (XD-8010) |
| Vierge | 0 | 0 |
| Échantillon 1 | 97,3 | 97,4 |
| Échantillon 2 | 288 | 309,8 |
| Échantillon 3 | 1122 | 1107.6 |
La différence entre les valeurs données et les valeurs réelles de Br, (Unité : ppm)
| Goûter | Valeur donnée | Valeur réelle (XD-8010) |
| Vierge | 0 | 0 |
| Échantillon 1 | 90 | 89,7 |
| Échantillon 2 | 280 | 281.3 |
| Échantillon 3 | 1116 | 1114.1 |
La différence entre les valeurs données et les valeurs réelles de Cd, (Unité : ppm)
| Goûter | Valeur donnée | Valeur réelle (XD-8010) |
| Vierge | 0 | 0 |
| Échantillon 1 | 8.7 | 9.8 |
| Échantillon 2 | 26,7 | 23,8 |
| Échantillon 3 | 107 | 107,5 |
La différence entre les valeurs données et les valeurs réelles de Hg, (Unité : ppm)
| Goûter | Valeur donnée | Valeur réelle (XD-8010) |
| Vierge | 0 | 0 |
| Échantillon 1 | 91,5 | 87,5 |
| Échantillon 2 | 271 | 283,5 |
| Échantillon 3 | 1096 | 1089.5 |
La différence entre les valeurs données et les valeurs réelles de Pb, (Unité : ppm)
| Goûter | Valeur donnée | Valeur réelle (XD-8010) |
| Vierge | 0 | 0 |
| Échantillon 1 | 93,1 | 91,4 |
| Échantillon 2 | 276 | 283,9 |
| Échantillon 3 | 1122 | 1120.3 |
Les données de mesure répétées de l'échantillon 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Unité : ppm)
| Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
| 1 | 1128,7 | 1118,9 | 110,4 | 1079,5 | 1109.4 |
| 2 | 1126.2 | 1119.5 | 110,8 | 1072.4 | 1131.8 |
| 3 | 1111.5 | 1115.5 | 115,8 | 1068,9 | 1099.5 |
| 4 | 1122.1 | 1119,9 | 110.3 | 1086.0 | 1103.0 |
| 5 | 1115,6 | 1123,6 | 103,9 | 1080.7 | 1114.8 |
| 6 | 1136.6 | 1113.2 | 101.2 | 1068.8 | 1103,6 |
| 7 | 1129.5 | 1112.4 | 105,3 | 1079.0 | 1108,0 |
| Moyenne | 1124,3 | 1117.6 | 108,2 | 1076,5 | 1110.0 |
| Écart-type | 8.61 | 4.03 | 4,99 | 6,54 | 10,82 |
| RSD | 0,77% | 0,36% | 4,62% | 0,61% | 0,98% |
Filtre secondaire pour élément Pb (échantillons de substrat en acier), échantillon : acier (Pb 113 ppm)
1. Le rayonnement X du tube à rayons X primaire est irradié à travers un collimateur jusqu'à l'échantillon.
2. Caractéristiques d'excitation des rayons X primaires des éléments contenus dans les rayons X de l'échantillon à travers le collimateur secondaire dans le détecteur
3. Traité à travers le détecteur, formant des données de spectroscopie de fluorescence
4. L'analyse des données de spectroscopie informatique, l'analyse qualitative et quantitative est terminée
| Modèle | NB-8010 | |
| Analyse principe | Fluorescence des rayons X à dispersion d'énergie Analyse | |
| Gamme d'éléments | S (16) | |
| Goûter | Plastique / métal / film / solide / liquide/poudre, etc., toute taille et forme irrégulière | |
| tube à rayons X | Cibler | Mo |
| Tension des tubes | (5-50) kV | |
| Courant du tube | (10-1000) et autres | |
| Irradiation de l'échantillon diamètre | F1mm-F7mm | |
| Filtre | 15 ensembles de filtre composite sont automatiquement sélectionné, et la conversion automatique | |
| Détecteur | Importations en provenance des États-Unis Détecteur Si-PIN | |
| Le traitement des données circuit imprimé | Les importations en provenance des États-Unis, avec l'utilisation de jeux de détecteurs Si-PIN | |
| Goûter observation | Avec caméra CCD 300 000 pixels | |
| La chambre d'échantillon Taille | 490 (L)´430 (W)´150 (H) | |
| Méthode d'analyse | Linéaire linéaire, lignes de code quadratiques, correction d'étalonnage de force et de concentration | |
| Système opérateur Logiciel | Windows XP, Windows 7 | |
| Gestion de données | Gestion des données Excel, rapports de test, Format PDF / Excel enregistré | |
| Travail environnement | Température : 30 £°C. Humidité £70% | |
| Poids | 55kg | |
| Dimensions | 550´450´395 | |
| Source de courant | AC220V±10%,50/60Hz | |
| Détermination conditions | Environnement atmosphérique | |