Microscope à force atomique
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microscope afm à force atomique
Marque : NANBEI
Modèle : AFM
Microscope à force atomique (AFM), un instrument analytique qui peut être utilisé pour étudier la structure de surface des matériaux solides, y compris les isolants.Il étudie la structure de surface et les propriétés d'une substance en détectant l'interaction interatomique extrêmement faible entre la surface de l'échantillon à tester et un élément sensible aux micro-forces.
